论文研究一种有效的老化路径约减方法 .pdf
一种有效的老化路径约减方法，邢璐，梁华国，随着CMOS集成电路工艺尺寸的不断缩小，电路可靠性问题日益严重，而由NBTI效应引起的电路老化问题尤其突出。由于实际电路大多比较复�
一种有效的老化路径约减方法，邢璐，梁华国，随着CMOS集成电路工艺尺寸的不断缩小，电路可靠性问题日益严重，而由NBTI效应引起的电路老化问题尤其突出。由于实际电路大多比较复�