这项理论研究对样本变化进行了X射线荧光（XRF）分析，重点是样本厚度，密度和粒径的变化。 推导了X射线荧光强度的理论公式。 这些样本变化是使用蒙特卡洛中子粒子传输代码MCNP5模拟的。 计算出Cu元素的X射线特征峰数。 从理论公式和计算上，这些变化对荧光强度X射线特性产生了显着影响。 除薄样品外，厚度与计数之间存在非线性关系。 随着密度的增加，饱和厚样本的计数以指数形式增加。 当密度达到1 g.cm-3时，计数保持不变。 基质材料（水分）可能会增加基质效应。 水分越高，基质效应越大。 样品粒径也会影响这些测量结果。 因此，必须在测量前准备好这些样品。 计算结果与理论公式一致。