基于ARM7导电聚合物电阻率测量系统的设计

导电聚合物材料的电学特性是通过掺杂来控制其电阻率来改变的。因此测量导电聚合物的电阻率具有重要意义。半导体工业中普遍使用四探针测量仪测量无机半导体材料的电阻率。而导电聚合物属于有机半导体材料,导电机理不同,且电阻率区间跨度较大(为10-3~1010Ω·cm)。使用四探针测量仪无法满足应用要求。目前,进行较高电阻率测量时可以按照国标(GB3048.3—83)方法搭建测量电路。但是,该方法对样品的外形有严格要求,电路搭建费时、耗力;激励电压大小难于掌控,电压过小影响测量精度,电压过大会导致较大的电流,可能影响样品特性,且过高的电压危险性很大。为了避免压片、塑型等前处理过程,也为了在宽范围内准确、安全