测试测量技术一种数字集成电路测试系统的设计随着数字集成电路的广泛应用,测试系统就显得越来越重要。在网络化集成电路可靠性试验及测试系统项目中,需要检验某些具有宽电平范围的军用数字集成电路芯片,而市场上常
在使用TTL或CMOS数字集成电路时,只有对它们的输入、输出高、低电平值了解清楚,在应用数字集成电路时才能保证得到预期的效果。 这里以TTL型数字集成电路74LS04M(反相器)与CMOS型数字集成
一、电压法判断数字集成电路好坏 1、如果数字集成电路的供电电压正常,焊接良好,而测得其电源引脚的电压值过低,则可判定该被测数字集成 电路已损坏。 2、如果测得数字集成电路电源电压引脚的
各大名校如清华,中科院,中科大等,数字电路科目考研,考博的指定教材
东南大学数字集成电路
数字集成电路:电路系统与设计(第二版)中的PPT,很详细,适合配套的书籍一起看。
如果数字集成电路的供电电压正常,焊接良好,而测得其电源引脚的电压值过低,则可判定该被测数字集成 电路已损坏。
数字集成电路的几种分类方法和总结,资料综合许多现有数据,详细具体
1.TTL数字集成电路 TTL是晶体管输入-晶体管输出的逻辑电路,它由NPN或PNP型晶体管组成。TTL数字集成电路主要分为 54/74系列、5411/7411系列、545/745系列、54ALS
为了制作和使用上的方便,国家有关部门参照国际标准,制定了国产集成电路的技术指标——电参数和极限参数及其严格的测试方法。限于篇幅,这里仅就数字电路。运算放大器主要参数的意义进行说明,各项参数的测试电路及
