BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用 下载 qq_64428 15 0 PDF 2020-07-30 09:07:35 绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试(BIST)。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后,讨论了MemBIST、 LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点,分析了这几种测试方法的优缺点。 立即下载 微信扫一扫:分享 微信里点“发现”,扫一下 二维码便可将本文分享至朋友圈。