LTE手机射频信道衰落测试方案

传统衰落特性测试方法采用外部衰落模拟器和噪声源,通过常规射频测试设备修改信号。这种设备显著增加了整个测试系统的成本,并且需要额外的软件控制并协调各个仪器。本文将介绍一种创新的全数字衰落模拟方法,这种方法可极大减少增加贵重设备所产生的成本,同时提高测量精度并缩短测试时间。