基于扫描的电路设计 下载 千山寒 7 0 PDF 2021-01-15 05:01:25 经过改进后的基于扫描的测试架构,用向量压缩来减少测试时间,并且将Test—Per-Scan的测试方式改成了Test—Per-Clock的测试方式,加快了测试的速度。 立即下载 微信扫一扫:分享 微信里点“发现”,扫一下 二维码便可将本文分享至朋友圈。