为了满足高精度光学系统对光学元件纳米级的检测精度要求,提出了一种理论可实现纳米级测量的632.8 nm移相菲佐干涉仪的设计方案。通过对检测凹面和凸面的632.8 nm 移相菲佐干涉仪的基本结构和测量原
提出一种精确测量波片相位延迟的方法。将待测波片置于起偏器和检偏器之间,转动待测波片和检偏器至不同的位置并探测输出的光强,得到波片的相位延迟。采用光源调制技术和解调技术,抑制了连续光所无法克服的背景光干
热电电压(热电动势)是低电压测量中最常见的误差来源。当电路的不同部分处在不同的温度之下,或者当不同材料的导体互相接触时,通常就会产生这种热电电压,如图1所示。各种材料相对于铜的赛贝克(Seebeck)
机床的空间误差测量及补偿,卢红,关伟智,本文分析了当前国内外机床误差补偿技术的研究现状,提出了该技术目前仍存在的主要问题。对某类型三坐标数控机床,采用了激光测量
为了更简便地实现Stokes矢量测量,采用一种工作在不同频率上的双弹光调制器,利用它的频率叠加对光进行调制,产生载有被测量的高频调制分量,通过锁相一次得到了适用于所有偏振态测量的4个Stokes分量,
针对现有光弹调制测量偏振方法无法用普通阵列探测器有效采集锁相频率,难以测量复色光的偏振特性等缺点,提出了一种三光弹调制器互差频调制的新型偏振测量方法。操作时,3个光弹调制器分别工作在频率w1,w2和w
为研究大气背景辐射和仪器辐射规律、控制仪器热辐射和仪器精度,设计了一套大气背景辐射测量系统。分析了测量系统各组件和辐射定标等各类误差源对总测量误差的影响,还分析了定标精度的影响因素,确定了测量工作的改
随着全球定位系统的广泛应用及用户对测量精度有着不同的要求,研究GPS测量的精度不可避免的,分析误差来源是研究精度所必须做的。分析GPs测量的误差来源及主要减弱办法.
本文将介绍OLED显示器的DC生产测试中测量误差的来源
为深入研究全相位FFT ( all-phase FFT, apFFT ) 的相位谱性质以扩大其应用范围, 本文从极坐标相位谱图、矢量分析、矩阵分析及其仿真实验等多个角度阐述了apFFT 的相位测量机理
