基于双向分布反射函数的红外偏振特性分析

红外偏振成像技术是一种新的探测技术,其主要利用目标的红外偏振特性背景与目标区分开来。目前,主要是通过实验获取目标场景的偏振信息图像(偏振度、偏振角图像),进而研究分析目标的红外偏振特性。但红外偏振信息与多种因素相关,仅通过常用的偏振信息图像无法获取需要的数据。为了更深入地研究红外偏振成像理论和目标的红外偏振特性,通过偏振双向反射分布函数模型推导了红外发射率模型和红外热偏振成像辐射控制方程,得出了偏振信息数学表达式,并在理论上分析了材料粗糙度及折射率对偏振信息的影响,这将为实现基于红外热偏振成像的目标探测提供理论指导。