论文研究 NAND Flash自测试减少测试时间的设计 .pdf
NAND Flash自测试减少测试时间的设计,周启侠,,在NAND Flash测试的环节中,测试时间是影响测试成本的关键因素之一。本文提出一种以页为导向的自测试设计方法,并采用混合
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