暗视场及相衬显微术及其对Nd:YAG晶体中缺陷研究 下载 ZoeyZY 10 0 PDF 2021-04-26 00:04:29 暗视场及相衬显微术的分辨率可达10~500(?),采用这两种技术可以十分清淅地观察到用引上法及温梯法生长的Nd:YAG晶体中的点缺陷集团,小尺寸位错环,蜷线位错,片状缺陷时精细结构.特别是观察到非缀饰刃位错及混台位错的图像.对非缀饰位错的观察已用化学腐浊,光双折射貌相术及X射线形貌术作了证明. 立即下载 微信扫一扫:分享 微信里点“发现”,扫一下 二维码便可将本文分享至朋友圈。