ASIC芯片可测试性设计的最新技术
ASIC芯片是一种高度定制化的电路板，由于其复杂的结构和功能，其测试技术也格外重要。本文将介绍最新的ASIC可测试性设计技术，包括布图测试、逻辑仿真测试、边界扫描测试等。通过这些技术的应用，可以提高ASIC芯片的测试效率和准确度，为生产和研发提供有力的支持。
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