高速高分辨率ADC有效位测试方法研究

介绍了ADC的有效位计算公式,分析了ADC的性能参数测试方法,给出了ADC的有效位测试解决方案。对FFT方法在ADC性能测试中的应用做了深入探讨,包括频谱泄露、相干采样和加窗函数等。采用一种改进的FFT方法对TI公司的ADS5400进行有效位测试,得到其在400 MS/s采样率的有效位ENOB=9.12 bit(fin=1.123 MHz)。