元器件应用中的特殊晶体管的检测方法

1.普通达林顿管的检测 普通达林顿管内部由两只或多只晶体管的集电极连接在一起复合而成,其基极b 与发射极e之间包含多个发射结。检测时可使用万用表的R×1 kΩ或R×10 kΩ档来测量。 测量达林顿管各电极之间的正、反向电阻值。正常时,集电极c与基极b之间的正向电阻值(测NPN 管时,黑表笔接基极b;测PNP 管时,黑表笔接集电极c)与普通硅晶体管集电结的正向电阻值相近,为3~10 kΩ,反向电阻值为无穷大。而发射极e与基极b之间的正向电阻值(测NPN 管时,黑表笔接基极b;测PNP 管时,黑表笔接发射极e)是集电极c与基极b之间正向电阻值的2~3 倍,反向电阻值为无穷大。集电极c与