TC 08温度记录仪在光学薄膜激光量热吸收测试的应用

摘要:在激光系统中,光学薄膜的抗激光强度较低,这是光学薄膜研究中重要的问题之一。测量光学薄膜对强激光的热吸收 情况对于光学薄膜的性能研究具有重大意义,而TC-08是一款可靠灵活的温度记录仪。本文介绍了利用TC-08温度记录仪“接触式”地测试光学薄膜激光量热吸收的测试,大大地扩展了TC-08在光电行业的应用。 1 引言 光学薄膜的应用始于20世纪30年代。现代,光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域,制造各种光学仪器,它充斥着我们生活的方方面面,其性能的优劣直接影响产品的性能。光学薄膜对激光量的热吸收 是衡量光学薄膜性能的一个重要参数,特别是在强激光作用下,即使十分微弱的吸收也足以导