直方图平移的自适应大容量可逆水印算法

传统的基于直方图平移的可逆水印算法的单遍嵌入过程在每个像素点中至多只能嵌入1bit水印信息,为了达到更高的嵌入量必须使用多遍嵌入.但在第2遍以及其后的嵌入过程中,所计算的预测误差将受到嵌入的水印信息的影响,极大地降低嵌入效率.为此,笔者提出一种基于直方图可逆数字水印的改进算法,该算法根据图像的纹理复杂度在像素中自适应嵌入1bit或多比特水印信息,使得单遍嵌入量可以达到2bit/像素以上.此外,即使在单个像素点嵌入多比特水印信息,所使用的预测误差仍为原始预测误差,有效地降低了嵌入失真.实验结果表明,该算法在有效提高嵌入量的同时仍可保持较高的图像质量.