源温度对基于CVD的ZnO:N薄膜性能影响

liuwei86305 26 0 PDF 2020-03-17 14:03:31

源温度对基于CVD的ZnO:N薄膜性能影响,毛飞燕,邓宏,利用化学气相沉积(CVD)法,以Zn4(OH)2(O2CCH3)6•2H2O为源,NH3为掺杂气体,在不同源温度下沉积ZnO:N薄膜,研究了样品的结构、光学、电学

用户评论
请输入评论内容
评分:
暂无评论