在高校的教学实验环节中, 需要大量使用 TTL74 , 54系列和 C MOS4000 , 4500系列数字集成芯 片。目前,市场上存在一种可以对 TTL , C MOS数字 集成芯片进行检测的工程应用型测试仪, 但是其价 格较贵,较难满足学生人手一台; 另外, 该测试仪器 是面向工程单位的, 不能测试实验室中的很多数字 芯片。因此,从节约经费、 提高利用率的角度出发, 本文采用 AT89C51单片机设计了集成芯片测试系 统。该测试系统能够实现对高校实验室中常用的 TTL , CMOS系列芯片的功能检测。