集成电路测试技术基础

集成电路是20世纪60年代发展起来的一种半导体器件,它的英文名称为Integrated Cir-cuites,缩写为IC。在一块极小的硅单晶片上,利用半导体工艺制作上许多半导体二极管、三极管、电阻器、

集成电路的外封装有多种形式,最常见的有圆形金属封装、扁平形陶瓷或塑料封装、双列直插型等。它们外形如图96所示。其中双列直插式、单弄直插式的较为多见,它们的引脚有8、10、12、14、16、24个等多种

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在集成电路分类中有一种说法就是有双极型和单极型之分。所谓双极型和单极型主要指的是组成集成电路的晶体管的极性而言的。双极型集成电路是由NPN或PNP型晶体管组成。由于电路中载流子有电子和空穴两种极性,因

摘要:集成电路的应用十分广泛,随着集成电路向着更小工艺尺寸,更高集成度方向发展,集成电路失效分析扮演着越来越重要的角色。一块芯片上集成的器件可达几千万,要想找到失效器件实属大海捞针,因此进行集成电路失

介绍集成电路的基础知识，加工工艺流程，同时还有一些实例！