本文主要内容包括：1.高温存储试验，2.低温存储试验，3.湿热存储试验，4.温度冲击试验，5.湿热运行试验，6.低温运行试验，7.高温充电试验，8.低温充电试验，9.盐雾试验，10.振动沙尘试验，11.静电放电（ESD）试验，12.定向跌落试验，13.滚筒跌落试验，14.随机跳动试验，15.微跌试验，16.软压试验，17.扭曲试验，18.钢球冲击试验，19.TP拉拔力试验，20.侧向力试验，21.水波纹试验，22.防呆设计试验，23.按键寿命试验，24.USB插拔寿命试验，25.耳机插拔寿命试验，26.电池/盖插拔寿命试验，27.SIM/T卡/卡托拆装寿命试验，28.铁屑振动SPK寿命试验，29.铁屑振动REC寿命试验，30.喇叭寿命测试，31.MIC