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模拟集成电路的讲解,集成运放的信号运算电路,集成运放在音频和高频电路与锁相环方面的运用等,是一本不错的电路书籍,喜欢对大家有帮助
集成电路(IC)的静电放电(ESD)强固性可藉多种测试来区分。最普遍的测试类型是人体模型(HBM)和充电器件模型(CDM)。这两种ESD测试类型旨在揭示包含基本ESD控制的制造环境下,电路在ESD应力
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CMOS工艺可分为P阱CMOS、N阱CMOS和双阱CMOS。以NWELL工艺为例说明CMOS中常用有源及无源器件的器件结构、工作原理、特性参数等。建议在此之前先了解CMOS的基本工艺。
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1946年1月,Bell实验室正式成立半导体研究小组, W. Schokley肖克莱,J. Bardeen巴丁、W. H. Brattain布拉顿。Bardeen提出了表面态理论, Schokley给
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