随着RFID技术应用领域的增加，RFID系统性能的评估也日趋重要。为了评估RFID技术在衰落信道下的性能，分析了RFID系统中的调制与编码技术，通过分析反向散射调制的误码率，导出了Nakagami-m衰落信道下标签的错误率，给出了不同信道衰落参数和编码参数下的数值仿真结果。结果表明，衰落参数越大，重复编码次数越多，标签错误率越低。