这项研究提出了一个单一的质量块CMOS-MEMS加速度计，带有集成的三轴传感电极阵列。本研究采用平面指型和平面外板式间隙闭合传感电极。采用标准TSMC0.35Pm2P4MCMOS工艺和内部后CMOS工艺实现器件。电容面内和面外传感间隙可以通过CMOS工艺的最小线宽和厚度来定义。结构尺寸仅为500x500Pm2。测量结果表明，X轴的灵敏度（非线性）为2.47mV/g（1.3％），Y轴为2.87mV/g（1.4％），Z轴为3.89mV/g（3.4％）。面内和面外传感的噪声流量分别为0.59mg/rtHz和0.8mg/rtHz。