根据高速、高精度锁相环抖动测量的需要，在基于单相位数据转换跟踪环的抖动测试模型的基础下，提出一种基于Xilinx芯片的多相位数据转换跟踪环的抖动测试算法。根据这两种方法的抖动测试模型，比较各自的抖动误差表达式，并采用Xilinx芯片定点仿真。理论分析和仿真结果均表明，在采样周期一致的情况下，多相位的抖动误差测试精度相较于单相位的抖动测试精度相应倍数的提高。该方法缓解了Xilinx芯片中时钟限制，提高了SDH抖动测试精度。