exploring_boundaries91613 cnemail.pdf

guangrongpr 17 0 PDF 2020-05-23 20:05:22

完全表征半导体设备、材料或工艺,需要具有三种类型的测量能力:精准直流I-V测量、交流阻抗测量(通常由C-V表测)、超快或瞬态I

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