基于Pcap01芯片的高精度微电容检测电路设计与检验,陈张浩,唐磊,提出一种基于Pcap01的微电容测量电路设计,可对0-3.5nF之间的微小电容进行高精度测量。该设计基于TDC(时间数字转换原理),系统硬件主要由