硅片缺陷检测算法

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一种快速的直线检测算法，可在线性时间内得到亚像素级精度的检测结果。诞生于2010年。

亚象素边缘提取技术，比较实用。在分析Tabatabai提出的灰度矩亚像素边缘检测算法的基础上，指出灰度矩算法存在边缘判断条件不够完善和未能考虑模板效应的问题，提出了改进方法，考虑Tabatabai的灰

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使用matlab编写的运动目标跟踪算法，核心代码均自己手写，包括帧间差分法，ViBe算法和高斯混合建模法，并且使用了matlabGUI，可直接选择视频查看算法效果。

图像边缘检测算法代码，非常详细的算法代码。

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