在寻找无中微子双β衰变的实验中，识别两个发射电子的可能性是拒绝背景事件并因此提高实验总体灵敏度的有力工具。在本文中，我们使用NEXT-White检测器（在地下运行的NEXT实验的第一个检测器）的数据，基于双电子轨迹和单电子轨迹的不同事件特征，对切割效率进行了首次测量。使用228Th校准源产生能量接近1.6MeV的类似信号和类似背景的事件，发现在背景接受20.6±0.4stat±0.3sys％的情况下，信号效率为71.6±1.5stat±0.3sys％。与蒙特卡洛模拟具有很好的一致性。还通过蒙特卡罗模拟对无中微子双β衰变的能量区域进行了外推，所获得的结果表明，与低能量条件下获得