弦压实中的再加热通常是由最轻模量的衰减驱动的，该模量会产生标准模型颗粒，暗物质和表现为暗辐射的光隐藏扇区自由度。 这个共同的起源使我们能够找到暗物质与暗辐射之间有趣的关联。 通过将当前的中微子种类有效数目Neff的上限与再加热温度下限的组合作为费米数据中暗物质质量mDM的函数，我们在（Neff，mDM）平面上获得了强约束。 该平面上的大部分允许区域对应于类似希格西诺的暗物质的非热情境。 仅当Neff趋于其标准模型值时，才允许热暗物质。 我们表明上述情况是在具有摄动模量稳定的模型中实现的，在该模型中，不可避免的是产生暗辐射，因为散装的闭合弦轴仍保持轻状态，不会被异常U（1）吞噬。