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p→p弹性散射中的质子分析能力已通过极化质子束在796 MeV处以小角度在COSY-ANKE以及1.6至2.4 GeV之间的其他五种束能量下进行了测量。 通过在ANKE前向探测器中检测快速质子或在硅跟
分析了计数法颗粒物质量测量的一般数学模型,结果表明颗粒群总质量能表示成各通道计数值的线性迭加。在此基础上以光散射球形颗粒群质量测量为例,以颗粒物的同质量子集Ni为出发点,依据统计理论推导出计数通道的散
讨论了一种新型而且简单的门控光子计数法,用来测量高散射介质的光学参量。当一束光脉冲入射到高散射介质后,该方法可以恢复出光脉冲经过散射后从介质表面逸出的波形。与传统的门控光子计数法相比,该方法利用计数器
EW射频隐身系统频率选择表面电磁散射参数的测量
对准平面波照射下的背景材料后向散射特性的测量具有重要的实用价值。搭建了基于准平面波的2.52 THz背景材料后向散射特性测量实验装置,准平面波束宽约13 mm,作用距离约2.5 m。初步测量了基于墙的
低相干动态光散射技术利用低相干干涉计的特性,有效抑制了从浓悬浮液中散射的多次散射光,从而能够检测到的单散射光信号中获取颗粒的动态信息。该技术以单散射理论为解析基础,为避免多重散射的影响,测量区域一般局
根据米散射理论和激光传播方程,建立PM 2.5颗粒物浓度与后向散射光强的关系模型,并提出了基于电荷耦合器件(CCD)后向散射激光雷达的实时PM 2.5 颗粒物浓度的监测方法。设计了以532 nm 波长
少模光纤的模式耦合引起模分复用(MDM)系统传输性能劣化, 是造成MDM技术难以在实际中大规模应用的主要因素之一。精确测量少模光纤模式耦合系数和量化分析模式耦合与系统性能之间的关系, 可以为系统的损伤
提出一种高斯光束照射下颗粒后向散射光信号的测试方法,对悬浮于流体中不同粒径的玻璃微珠进行了测量,并对测得的脉冲波形进行分析。结果发现,采集的波形基本上符合高斯分布,且波形峰值与粒径有较好的线性关系。对
光学元件在加工及使用过程中引入的麻点或擦痕会严重影响其表面质量。基于Peterson疵病散射理论,将麻点或擦痕引起的散射光分为两部分,即对麻点(或擦痕)内部表面的散射光作漫反射分析,对麻点或擦痕外围轮
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