束中和瓶中型测量中子寿命的实验的差异在4σ标准偏差水平上。 在最近的出版物中，Fornal和Grinstein提出，如果中子通过暗衰变模式以百分之一的水平衰变，一个可能的分支为n→χ+ e + e-，则可以解决这个难题。 利用来自Perkeo II实验的数据，我们对支化分数设定了限制，并排除了暗物质粒子所允许质量范围的95％的1％贡献。