使用与BESIII检测器在s = 4.6 GeV质心能量处收集的567 pb-1积分光度对应的e + e-碰撞的数据样本，我们测量了包含半半电子Λc+的绝对分支分数 使用双标签方法衰减。 我们获得B（Λc+→Xe +νe）=（3.95±0.34±0.09）％，其中第一个不确定度是统计的，第二个不确定度是系统的。 使用已知的Λc +寿命和非奇异场域介子的电荷平均半轻子衰变宽度（D0和D +），我们得出包含半半子衰变宽度Γ（Λc+→Xe +νe）/Γ（D→Xe +νe）的比率 ）＝ 1.26±0.12。