事件的随机重合（特别是来自两个中微子双β衰变的事件）可能是由于低温辐射热计在时间上不佳而导致的中微子双β衰变搜索的主要背景之一。 利用前沿分析，平均时间和χ2方法对脉冲形状进行判别，以区分ZnMoO 4低温闪烁辐射热计中的随机重合事件。 这些事件可以通过分析大约14 ms的上升时间和900的信噪比的热信号而在99％的水平上被有效地拒绝，而通过光的分析可以在92％的水平上被有效地拒绝。 信号的上升时间约为3毫秒，信噪比为30，可检测到95％的单个事件。 这些拒绝效率与极低的背景水平兼容的100 Mo的中微子双β衰减感兴趣的区域中，用于富集的ZnMoO 4检测器，数量级为10-4计数/（y ke