单晶叶片铸造缺陷可靠性研究,王佰智,于庆民,对铸造缺陷下单晶叶片的疲劳寿命进行了分析,建立了与夹杂形状相关的镍基单晶叶片疲劳寿命模型;对镍基单晶叶片夹杂形状进行分析