NA60中η→μ+μ−γ和ω→μ+μ−π0电磁跃迁形状因数和ρ→μ+μ−线形的精度研究
NA60实验研究了在CERN SPS上使用400 GeV质子束在质子-核(pA)碰撞中产生的低质量介子对。 低质量dimuon光谱由光中性介子α,,,,,和的两体和达利兹衰变的叠加很好地描述,并且没有中等强度的证据 发现效果。 对α和Ï的电磁跃迁形状因数进行了新的高精度测量,从比外围设备In–In先前由NA60收集的样本大10倍的数据样本中受益。 使用极点参数化| F(M)| 2 =(1MM2 /α› 2)we2我们发现›α2= 1.934±0.067(stat。)±0.050( syst。)(GeV / c2)2和Ï› 2 = 2.223±0.026(stat。)±0.037(syst。)
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