阐述了衡量高端磁盘阵列可靠性的重要指标MTTDL，通过分析两种造成磁盘错误的原因，建模计算了各种RAID级别的MTTDL，设计了磁盘读出错率的测试方案，实现了基于分布式的磁盘读出错率测试程序。