电迁移测试结构对超厚金属层电迁移测试结果的影响,唐文婷,于赫薇,通过重新设计电迁移测试结构的引线,将超厚金属层的应力电流流经引线时,进行分流;同时依照回流效应,设计分流结构的长度,减少