我们提出了一种新方法，通过精确测量高发光度B工厂中辐射轻子τ衰变的差分速率来探测τ轻子的磁和电偶极矩。 这些力矩与标准模型值的可能偏差可以通过有效的拉格朗日方法进行分析，从而提供与模型无关的结果。 给出了有关非标准对微分衰减率的贡献的解析表达式。 研究了探测τ偶极矩的早期建议。 我们的方法的详细可行性研究分别在KEKB和Super-KEKB对撞机的Belle和Belle II实验条件下进行。 这项研究表明，我们的方法应用于辐射的轻子τ衰变的计划的全套Belle II数据集，有可能改善τ异常磁矩的当前实验范围。 相反，预计其灵敏度不会降低τ电偶极矩的当前实验极限。