电场强度（EFI）是评估电缆接头内部绝缘状态的重要特征量。 本文基于有限元法，提出了两种电喷研究方法，即场电路耦合法和等效电路法。 可以根据测量电路中的电流来计算外半导电屏蔽层内表面的平均EFI。 这两种方法之间的相对误差约为15％，这大致证明了这两种方法的一致性。 进一步的实际应用研究使在线监测电缆接头成为可能。