在高速脉冲作用的情况下，研究高速电路系统互连和封装结构和半导体单元电路通过接 口构成的整体系统的电特性分析。信号完整性（Signal Integrity，简称 SI）是信号在电路中能2 以正确时序和电压做出响应的能力。通俗地说，可以理解为信号的质量。信号完整性问题的 影响主要包括：接口反射、串扰、地平面反弹噪声、 EMC/EMI 和电源完整性等等。 IC 开关 速度高、端接元件的布局不正确或高速信号的错误布线都会引起 SI 问题。随着电子技术和计 算机技术的发展，信号速率不断提高。近年来，随着高速电路的迅速发展，高速芯片和器件 越来越被广泛使用，信号完整性问题变得越来越突出，越来越引起关注。