伴随着高层次综合技术的普及和深入，高层次可测试性综合技术引起了广泛的关注。在简单介绍当前可测试性综合技术的现状后，提出了采用“VHDL进，VHDL出”的方式进行行为级可测试性综合的流程，并提出了一个新的行为级可测试性分析算法，然后讨论了测试点的选择、可测试结构的规范化描述和自动插入的技术与方法。