在许多基于单片机的应用中，单片机都受到各类电磁噪 声的影响。电气噪声可能导致应用出现异常行为。其 中的两种噪声事件分别称为静电放电（Electrostatic Discharge，ESD）和电过载（Electrical Overstress， EOS）。本应用笔记讨论了这两种事件、导致这些事 件的原因以及如何最大程度降低它们对应用的影响。