本文介绍了复杂的百万门ASIC芯片Lugia中几个DFT相关问题的解决方案。 这些问题包括:1)用于测试的有限封装引脚; 2)扫描链穿过电源平面边界导致的功率泄漏; 3)DFT模拟样式选择,以节省模拟时间