在集成电路设计中，需要使芯片上内部时钟和外部时钟同步，希望在外部时钟输入的高频率下使用芯片的内部时钟。基于以上两点，锁相环常常用于产生芯片上的内时钟。但是随着处理器频率的提高，传统的数字锁相环已经不能满足要求。在本文中，我们将展现一个新的锁相环锁定检测方法。锁定检测的功能是检测锁相环是否达到锁定。2.5G Hz PLL 锁定检测电路分析实现，就是要完成锁定检测电路的正向总体设计方案，锁定检测电路的反向提取，再在反向提取电路的基础上在SMIC0.18 um 工艺下进行重新设计，并完成HSPICE下的晶体管级仿真。2.5G Hz PLL 锁定检测电路分析实现的难点与重点是反向电路的提取和SMIC0