边界扫描测试技术飞速发展,测试与调试功能不断增强,硬件IP模块向集成多个内核方向发展,以往芯片中传统的测试访问端口(TAP)中嵌入单一的测试访问端口控制器(TAPC)逐渐被系统芯片中嵌入多个TAPC所取代。