在集成电路中减少天线效应的方案

随着技术的发展,集成电路密度不断增加,而栅氧化层宽度不断减少,超大规模集成电路中常见的多种效应变得原来越重要并难以控制。天线效应便是其中之一。

在CMOS集成电路的使用中，对CMOS集成电路的闩锁效应应特别加以重视。根据中国空间技术研究院1987～1990年卫星用CMOS集成电路失效模式和失效机理分布统计，因闩锁效应造成的CMOS集成电路失效

半导体产业中有两大分支:集成电路和分立器件。 集成电路 集成电路(integrated circuit,港台称之为积体电路)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、

迅速发展的射频集成电路为从事各类无线通信的工程技术人员提供了广阔的前景。如果RF电路的地线处理不当,可能产生一些奇怪的现象。对于数字电路设计,即使没有地线层,大多数数字电路功能也表现良好。而在RF频段

现在的电子产品往往由于一块集成电路损坏,导致一部分或几个部分不能正常工作,影响设备的正常使用。那么如何检测集成电路的好坏呢?通常一台设备里面有许多个集成电路,当拿到一部有故障的集成电路的设备时,首先要

导读:针对电路中存在的各种反馈,提出反馈的种类,说明各类反馈的判断方法。同时根据反馈对电路的影响,提出如何利用反馈改善电路的性能和功能,如何消除影响电路性能的反馈。 反馈是电子电路中不可缺少的重要

自从美国Intel公司1971年设计制造出4位微处理器芯片以来,在20多年时间内,CPU从Intel4004、80286、80386、80486发展到Pentium和PentiumII,数位从4位、8

为适应VLSI集成密度和工作速度的不断提高,新颖的集成电路NSD保护电路构思不断出现。本文将对ESD失效模式和失效机理进行了介绍,着重从工艺、器件和电路3个层次论述ESD保护模块的设计思路。 静电

MOS英文全称为Metal-Oxide-Semiconductor即金属-氧化物-半导体,确切的说,这个名字描述了集成电路中MOS管的结构,即:在一定结构的半导体器件上,加上二氧化硅和金属,形成栅极。

通常情况下,对于微波以下频段的电路( 包括低频和低频数字电路) ,在全面掌握各类设计原则前提下的仔细规划是一次性成功设计的保证。对于微波以上频段和高频的PC类数字电路,则需要2~3个版本的PCB方能保