在现代测控系统中,我们经常会采用上位机和下位机的开发控制模式。下位机主要是用来采集数据,可以通过嵌入式控制器、单片机控制器、PLC等来实现。上位机主要是图形界面,用来实时显示采集数据,并进行数据分析及处理,同时可以控制下位机。上位机的实现可以通过各种高级语言,比如VB、Delphi等以及NI公司的图形化虚拟仪器软件开发环境LabVIEW。