本文的设计是基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试。由于FPGA芯片价格的不断下降和低端芯片的不断出现,使用FPGA作为主控芯片可以更适合于市场,且有利于对性能进行扩展。实验表明,该系统设计合理,能对被测芯片进行准确的功能测试。