嵌入式存储器内建自测试方法.pdf

icdesign中的DFT设计教程

超大规模集成电路测试与可测试性设计课程PPT，第六讲内建自测试

系统级芯片中的嵌入式存储器内建自测，黄一希，谢憬，在目前的系统级芯片（SoC）中，嵌入式存储器占据的硅片面积越来越大，同时内建自测（Bist:Built-inself-test）也成了测试这些片内存储

嵌入式存储器的扩展实验，　　 NANDFLASH产品市场竞争激烈，各大厂商会经常更新产品的制成，纳米技术的提升会带来成本的降低，所以在选择的时候一定要定期关注新版本的测试，其实新产品对于芯片本身没有任

这篇文章是一篇概述性的。尤其适合初学者,可以了解一些基本技术,找到自己的突破口,在此基础上一帆风顺

在原相移器设计算法的基础上,通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法.实验结果表明,此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成LFSR扇出过大的缺点,而且提高了伪随机测试故障的覆盖率.内

随着集成电路制造工艺水平的提高,半导体芯片上可以集成更多的功能,为了让产品有别于竞争对手的产品特性,在ASIC上集成存储器可以降低成本和功耗、改善性能、增加系统级芯片的可靠性。随着对嵌入式存储器需求的

针对目前嵌入式存储器测试算法的测试效率与故障覆盖率难以兼得的现状,提出了兼顾二者的测试算法。实验结果表明该算法最适合对存储器进行大批量的测试。在测试效率上的优势很明显,故障覆盖率也能达到应用标准。

一种基于环路结构的RFIC内建自测试方法

受到硬件测试中BIST(内建自测试)技术和可测试性设计的启发，在国家自然科学基金项目“软件内建自测试”中提出了软件内建自测试的思想。给出了模板的程序流程中有效语句的定义、流程的存储格式以及独立路径的计