随着集成电路的日益复杂和性能的不断提高,带动了芯片的测试速度和引脚数的不断攀升,因此对检测集成电路的要求也向着高速的数模混合检测方向发展。要想判断某一集成电路是否是正常的,主要有哪些检测方法?